AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)

對(duì)象：集成電路（ICs），包括晶振晶體、實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊（RTC）、陀螺儀傳感器（GYRO），慣性測(cè)量單元（IMU）等

EPSON 溫補(bǔ)晶振TG2016SLA及32k溫補(bǔ)晶振TG-3541CEA(DTCXO)、實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊RA8804CE、單軸陀螺儀傳感器XV-9100CD等多個(gè)型號(hào)通過(guò)的是AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)。

AEC是“Automotive Electronics Councils（汽車電子設(shè)備委員會(huì)）”的縮寫(xiě)，是美國(guó)的主要汽車制造商與主要部件制造商共同成立的組織，該組織旨在提高車載電子部件的可靠性以及認(rèn)定 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化。“AEC-Qxxx”是被廣泛采用的車載電子部件標(biāo)準(zhǔn)，事實(shí)上已成為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

AEC-Q100 FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS：集成電路的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證

AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)

epson大部分汽車用晶振晶體、陀螺儀傳感器通過(guò)的是AEC-Q200技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。例如SG2520CAA、FC-13A、FA-238A、FA2016AA 等等。

對(duì)象：無(wú)源器件、

• AEC-Q200 STRESS TEST QUALIFICATION FOR PASSIVE COMPONENTS：無(wú)源元件的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證
• 對(duì)象：鉭和陶瓷電容器、鋁電解電容器、薄膜電容器、電磁器件（電感/變壓器）、網(wǎng)絡(luò)(R-C/C/R）、電阻器、熱敏電阻器、可調(diào)電容器/電阻器、變阻器、石英晶體、陶瓷共鳴器、鐵氧體EMI干擾抑制器/過(guò)濾器、聚合自恢復(fù)保險(xiǎn)絲
• 成功完成備注中器件類型的相應(yīng)*低溫度等級(jí)的驗(yàn)證，可以聲稱通過(guò)了該等級(jí)或更低等級(jí)的"AEC認(rèn)證"
• 對(duì)于低于上述*低溫度等級(jí)的驗(yàn)證，僅允許供應(yīng)商聲稱通過(guò)了較低等級(jí)的"AEC認(rèn)證"