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晶振輸出波形與測試電路

作者:愛普生代理江蘇南山 發布時間:2020-10-10分類:常見問題瀏覽:100次

1時序表

時序表

2.測試條件

(1)電源電壓

?超過 150µs,直到電壓級別從 0 %達到 90 % 。

?電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。

(2)其他

?輸入電容低于 15 pF

?5倍頻率范圍或更多測量頻率。

?鉛探頭應盡可能短。

?測量頻率時,探頭阻抗將高于 1MΩ。當波形經過振蕩器的放大器時,可同時進行測量。

(3)其他

?CL包含探頭電容。

?應使用帶有小的內部阻抗的電表。

?使用微型插槽,以觀察波形。

(請勿使用該探頭的長接地線。)
EPSON晶振測試條件

3.測試電路


TCO-****系列 VG, TG, EG,XG系列 *1 :在頻率電壓控制功能時,進行連接

(1)CMOS 負載
型號:
TCO-710x
TCO-708*X1A
CMOS 負載
(2) 抗低,電容負載
型號:
TG-5021CG/CE
TG-5031CJ
TG-5035CG/CE/CJ
抗低,電容負載
(3) TTL 負載
型號:
TCO-708*A1A
TTL 負載
(4) LV-PECL 負載
型號:
VG-4512CA
LV-PECL 負載
(5)LV-PECL 負載
型號:
EG-2121CB/CA
XG-2121CA
EG-4121CA
LV-PECL 負載
(6) LV-PECL 負載
型號:
EG-2102CB/CA
XG-2102CA
EG-2101CA
EG-4101CA
EA-2102CB
LV-PECL 負載
(7) LVDS 負載
型號:
EG-2121/2102CB
XG-2121/2102CA
EG-2121/2102CA
EG-2101CA
EG-4121/4101CA
EA-2102CB
LVDS 負載
(8) HCSL 負載
型號:
EG-2121/2102CA
EG-4121/4101CA
HCSL 負載
 
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