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晶振輸出波形與測(cè)試電路
1時(shí)序表
2.測(cè)試條件
(1)電源電壓
?超過(guò) 150µs,直到電壓級(jí)別從 0 %達(dá)到 90 % 。
?電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。
(2)其他
?輸入電容低于 15 pF
?5倍頻率范圍或更多測(cè)量頻率。
?鉛探頭應(yīng)盡可能短。
?測(cè)量頻率時(shí),探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過(guò)振蕩器的放大器時(shí),可同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
(3)其他
?CL包含探頭電容。
?應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。
?使用微型插槽,以觀察波形。
(請(qǐng)勿使用該探頭的長(zhǎng)接地線。)
3.測(cè)試電路
TCO-****系列 VG, TG, EG,XG系列 *1 :在頻率電壓控制功能時(shí),進(jìn)行連接
(1)CMOS 負(fù)載 型號(hào): TCO-710x TCO-708*X1A |
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(2) 抗低,電容負(fù)載 型號(hào): TG-5021CG/CE TG-5031CJ TG-5035CG/CE/CJ |
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(3) TTL 負(fù)載 型號(hào): TCO-708*A1A |
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(4) LV-PECL 負(fù)載 型號(hào): VG-4512CA |
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(5)LV-PECL 負(fù)載 型號(hào): EG-2121CB/CA XG-2121CA EG-4121CA |
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(6) LV-PECL 負(fù)載 型號(hào): EG-2102CB/CA XG-2102CA EG-2101CA EG-4101CA EA-2102CB |
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(7) LVDS 負(fù)載 型號(hào): EG-2121/2102CB XG-2121/2102CA EG-2121/2102CA EG-2101CA EG-4121/4101CA EA-2102CB |
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(8) HCSL 負(fù)載 型號(hào): EG-2121/2102CA EG-4121/4101CA |
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